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膜評価パッケージ
  • 4294Aの使用を前提とした容量測定を行うことができます。C-V測定、Z-F測定等の測定を連続して自動的に行うことができます。
測定条件設定画面 グラフスケール編集画面
[測定条件設定画面] [グラフスケール編集画面]
  • C-V、Z-Fなどの代表的なSWEEP測定を組み込んでおり、プログラムソースも公開しておりますので、お客様での改造、追加が容易に行えます。
  • 各SWEEP測定内では測定データをもとに、各種のパラメータを算出しており、SWEEPデータとともにこれらのパラメータ値もデータファイルに格納します。パラメータに関してはサマリ表示、マップ表示、SWEEPデータに関してはC-Vグラフ、Z-Fマップグラフ表示を行います。
  • データファイルはCSV形式で出力しますのでEXCEL等のWindowsアプリケーションでの解析も可能です。
標準組込アルゴリズム
C-V測定
CV_CpD Cp-Dモードによる電圧SWEEP測定
CV_CpD_Hys Cp-Dモードによる電圧SWEEP測定(ヒステリシス測定)
CV_CsRs Cs-Rsモードによる電圧SWEEP測定
CV_CsRs_Hys Cs-Rsモードによる電圧SWEEP測定(ヒステリシス測定)
CV_ZTh Z-θモードによる電圧SWEEP測定
CV_RX R-Xモードによる電圧SWEEP測定
CV_2FREQ 2周波法によるCp、Rp、Rsを電圧SWEEP測定
CV_MIN_PHASE 最小位相法を用いたCp、Rp、Rsを電圧SWEEP(ステップ)測定
Z-F測定
ZF_CpD Cp-Dモードによる周波数SWEEP測定
ZF_CsRs Cs-Rsモードによる周波数SWEEP測定
ZF_ZTh Z-θモードによる周波数SWEEP測定
ZF_RX R-Xモードによる周波数SWEEP測定
スポット測定
CSPOT_CpD Cp-Dモードによるスポット容量測定
CSPOT_CsRs Cs-Rsモードによるスポット容量測定
CSPOT_ZTh Z-θモードによるスポットZ-θ測定
CSPOT_RX R-XモードによるスポットR-X測定
CSPOT_2FREQ 2周波法によるCp、Rp、Rsをスポット算出
CSPOT_MIN_PHASE 最小位相法を用いたCp、Rp、Rsスポット算出


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