| FET |
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BVDSS |
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ドレイン・ソース間降伏電圧 ［ソース・ソース間短絡］ |
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BVDSV |
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ドレイン・ソース間降伏電圧 ［ゲート、基板電圧印加］ |
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BVGSO |
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ゲート・ソース間降伏電圧 ［ドレイン開放］ |
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BVGDO |
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ゲート・ドレイン間降伏電圧 ［ソース開放］ |
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BVGDS |
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ゲート・ドレイン間降伏電圧 ［ソース・ドレイン間短絡］ |
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IGL |
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ゲート漏れ電流 ［ソース・ドレイン短絡］ |
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IGL_X |
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IGL/(Div Value) |
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IDL |
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ドレイン漏れ電流 ［ゲート・ソース間短絡］ |
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IDL_X |
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IDL/(Div Value) |
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ISL |
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ソース漏れ電流 ［ゲート・ドレイン間を短絡］ |
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ISL_X |
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IDL/(Div Value) |
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IDS |
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ドレイン電流 ［ゲート電圧印加］ |
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IDS_X |
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IDS/(Div Value) |
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ISD |
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ソース電流 ［ゲート電圧印加］ |
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ISD_X |
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ISD/(Div Value) |
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VTH0 |
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しきい値電圧 ［サブスレッショルド領域］ |
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VTH1 |
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しきい値電圧 ［飽和領域］ |
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VTH2 |
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しきい値電圧 ［飽和領域 ２点測定］ |
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VTH2ｍ |
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しきい値電圧 ［飽和領域 ｎ点最小二乗法測定］ |
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VTH3 |
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しきい値電圧 ［飽和・非飽和両領域 ニュートン法］ |
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VTH4 |
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しきい値電圧 ［飽和・非飽和両領域 5270使用 バイナリサーチ］ |
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VTH6 |
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しきい値電圧 ［飽和・非飽和両領域 5270使用 リニアサーチ］ |
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SO |
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サブスレッショルドスウィング |
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Isub |
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基板電流 |
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Isub_X |
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Isub/(Div Value) |
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Isub_max |
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基板電流最大値 |
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Vg_max |
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ゲート電圧［基板電流最大時］ |
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Isub_max_X |
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Isub_max_X/(Div Value) |
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Idvd_sgl |
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ID-VD Sweep測定 |
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Vdrain |
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ターゲット電流時のドレイン電圧 |
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Idvd_mlt |
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ID-VD Sweep測定 ［GATE STEP］ |
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Idvg_sgl |
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ID-VG Sweep測定 |
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Vg |
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ターゲット電流時のゲート電圧 |
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Gmmax |
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Gm max |
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Vg_Gmmax |
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Gm max時のゲート電圧 |
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Vth_Gmmax |
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Vg_Gmmaxの前後ｎ点からId-Vg特性に対し外挿した直線とx軸との交点 |
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Gm |
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ID-VG Sweep測定しGm maxを算出 |
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Gmmax |
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Gm max |
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Vg_Gmmax |
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Gm max時のゲート電圧 |
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Vth_Gmmax |
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Vg_Gmmaxを含む前後n+1点からId-Vg特性に対し外挿した直線とx軸との交点 |
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Idvg_mltvd |
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ID-VG Sweep測定 ［DRAIN STEP］ |
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Idvg_sglvb |
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ID-VG Sweep測定 ［SUBSTRATE STEP］ |
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| バイポーラ |
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BVCBO |
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コレクタ・ベース間降伏電圧 ［エミッタ・オープン］ |
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BVEBO |
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エミッタ・ベース間降伏電圧 ［コレクタ・オープン］ |
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BVCEO |
|
コレクタ・エミッタ間降伏電圧 ［ベース・オープン］ |
|
BVCES |
|
ベース・エミッタ間降伏電圧 ［ベース・エミッタ短絡］ |
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BVCEV |
|
コレクタ・エミッタ間降伏電圧 ［ベース電圧印加］ |
|
BVCEI |
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コレクタ・エミッタ間降伏電圧 ［ベース電流印加］ |
|
BVECO |
|
エミッタ・コレクタ間降伏電圧 ［ベース開放］ |
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ICEO |
|
コレクタ・エミッタ間遮断電流 ［ベース開放］ |
|
ICEO_X |
|
ICEO/(Div Value) |
|
ICBO |
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コレクタ・ベース間遮断電流 ［エミッタ開放］ |
|
ICBO_X |
|
ICBO/(Div Value) |
|
IEBO |
|
エミッタ・ベース間遮断電流 ［コレクタ開放］ |
|
IEBO_X |
|
IEBO/(Div Value) |
|
ICES |
|
コレクタ・エミッタ間遮断電流 ［ベース・エミッタ短絡］ |
|
ICES_X |
|
ICES/(Div Value) |
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ICEV |
|
コレクタ・エミッタ間遮断電流 ［ベース電圧印加］ |
|
ICEV_X |
|
ICEV/(Div Value) |
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IBCO |
|
ベース・コレクタ間電流 ［エミッタ開放］ |
|
IBCO_X |
|
IBCO/(Div Value) |
|
IBEO |
|
ベース・エミッタ間電流 ［コレクタ開放］ |
|
IBEO_X |
|
IBEO/(Div Value) |
|
IECO |
|
ベース・エミッタ間電圧 ［コレクタ開放］ |
|
IECO_X |
|
IECO/(Div Value) |
|
VBEO |
|
ベース・エミッタ間電圧 ［コレクタ開放］ |
|
VBCO |
|
ベース・コレクタ間電圧 ［エミッタ開放］ |
|
VCEsat |
|
コレクタ・エミッタ飽和電圧 |
|
VBEsat |
|
ベース・エミッタ飽和電圧 |
|
VECsat |
|
エミッタ・コレクタ飽和電圧 |
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HFE |
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直流電流増幅率 |
|
| その他 |
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R2t_If |
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２端子抵抗測定 ［High側電流印加］ |
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R2t_If_X |
|
R2t_If/(Div Value) |
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R2t_Vf |
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２端子抵抗測定 ［High側電圧印加］ |
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R2t_Vf_X |
|
R2t_Vf/(Div Value) |
|
R4d |
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４端子抵抗測定 ［差動電圧測定、Vm使用］ |
|
R4t_If |
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４端子抵抗測定［High側電流印加、差動電圧測定］ |
|
R4t_If_X |
|
R4t_If/(Div Value) |
|
R4t_Vf |
|
４端子抵抗測定 ［High側電圧印加、差動電圧測定］ |
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R4t_Vf_X |
|
R4t_If/(Div Value) |
|
R4f |
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ファン・デア・ポウ４端子抵抗測定 |
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Cap |
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容量測定 ［4284Aまたは4294A使用］ |
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Gpara |
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容量測定時のコンダクタンス |
|
Cap_x |
|
Cap_x/(Div Value) |
|
Cv_SWEEP |
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C-V Sweep測定［4284Aまたは4294A使用］ |
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V1（Ctarget） |
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ターゲット容量時の電圧１ |
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V2（Ctarget） |
|
ターゲット容量時の電圧２ |
